| 產(chǎn)品圖片 | 產(chǎn)品名稱(chēng)/型號(hào) | 產(chǎn)品描述 |
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半導(dǎo)體特性曲線分析儀半導(dǎo)體特性曲線分析儀Z大集極電流10A/pulse 20A ，可測(cè)試高達(dá)2000V的掃描電壓和200pA/DIV的微小電流測(cè) ，
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半導(dǎo)體特性曲線分析儀半導(dǎo)體特性曲線分析儀可程式控制面板操作 (GPIB 標(biāo)準(zhǔn)介面),Z大集極電流10A(Pulse 40A)，5A/DIV
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日置電阻計(jì)寬量程、高分辨率、適用于系統(tǒng)測(cè)試的電阻計(jì) ?廣范圍測(cè)量 Z低0.1μΩ(20.00mΩ)，Z高110MΩ ?快速采樣,Z快可達(dá)0.6ms (*根據(jù)設(shè)定條件的不同,會(huì)有差異) ?補(bǔ)正偏置電壓,用9451(Pt)/溫度探頭進(jìn)行溫度補(bǔ)正功能 ?運(yùn)用4端子測(cè)量技術(shù),測(cè)試線接觸電阻可忽略不計(jì)
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